与AIM-9000红外显微镜的成像 - 电气和电子领域的缺陷分析

成像是在测量物体内物质的分布或化学结构的空间差异的可视化。由于该技术可以在短时间内获得大量信息,因此广泛用于各种目的,例如污染物分析和工业材料和生物样品的分析。AIM-9000红外显微镜具有比前面的AIM-8800更快的映射速度大约四倍* 1,因此可以实现前所未有的快速和简化的成像分析。此外,AIM-9000还具有突出的高灵敏度,S / N比为30,000:1,这是行业中最高的。因此,AIM-9000实现了高速和高灵敏度。映射程序能够进行区域映射测量,用于分析样品内的物质的面内分布,以及线映射测量,这对于深度方向有效地进行分析。本文介绍了关于混合污染物和电子基板上的缺陷的示例分析。

内容类型:
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文档编号:
A559
产品类别:
分子光谱,FTIR分光光度计
关键词:
映射,污染物,映射分析,自动,电子,成像,彩色地图,显微镜,能量和化学品,AIM-9000
文件名:
A559.PDF.
文件大小:
655KB.

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