Insexio SMX-100CT加微焦X射线计算机断层扫描系统

用于轻型材料的高对比微焦X射线计算机断层扫描系统

Insexio SMX-100CT微焦X射线计算机断层扫描系统

概述

Inspexio SMX-100CT Plus是一种微焦X射线计算机断层扫描系统,允许以精细规模分析复杂物体的内部结构分析。

Inspexio SMX-100CT Plus可以在轻质材料中以高分辨率实现高对比度图像,例如织物,植物,药品,生物学和木材样品。

此外,直观操作和高性能计算系统的组合显着降低了分析时间。

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