FPD HR Plus微聚焦x射线计算机断层扫描系统

用于高分辨率和高对比度的微聚焦x射线计算机断层扫描应用

FPD HR微聚焦x射线计算机断层扫描系统用于无损检测

概述

inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus是一款高度通用的微聚焦x射线计算机断层扫描系统,可生成高对比度和高分辨率x射线图像,用于从铝压铸件到碳纤维增强塑料等材料的精确内部结构分析。

专有的控制和重构软件,通过自动优化扫描参数,方便直观的操作和高通量数据分析。

此外,它易于加载和定位样本,高性能的计算系统有助于在少量时间内测试多个样本。

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