x射线荧光光谱和x射线衍射仪

能量色散x射线荧光光谱法(EDXRF)是通过测量元素重发射的特征x射线对样品进行定性和定量分析。非破坏性应用的理想工具,能量色散XRF光谱仪允许测量各种样品类型,如固体、粉末和薄膜,在许多不同的应用领域,包括电子、化学、制药和食品。

利用x射线衍射(XRD),以不同角度的x射线激发样品,检测发射出的x射线作为角度的函数。XRD测量为粉末和多晶样品的晶相识别和定量提供了常规方法。结晶度百分比,残余应力,微晶尺寸,晶格应变和薄膜测量也是可能的。

x射线产品线

用于XRF光谱分析的EDX-7000/8100能量色散x射线荧光光谱仪

EDX-7000/8100能量色散x射线荧光光谱仪

EDX-7000/8100 EDXRF光谱仪结合了最先进的半导体探测器和单位时间的高荧光x射线计数,实现对各种样品快速、精确、高分辨率的元素分析。
EDX-LE用于XRF光谱RoHS/ELV筛选

用于RoHS/ELV筛选的EDX-LE

EDX-LE是一款x射线荧光光谱仪,专为筛选符合RoHS/ELV指令的元素而设计。
XRD-6100/7000 x射线衍射仪

XRD-6100/7000 x射线衍射仪

XRD-6100/7000 x射线衍射仪以其易用性和丰富的功能,提供了涵盖广泛分析需求的解决方案,从常规定性和定量分析到状态变化分析。
一目宽量程高速探测器

一目宽量程高速探测器

x射线衍射仪的一维高速探测器,结合最先进的用户界面,实现高灵敏度分析和高速测量。

污染物检测仪/ EDXFTIR分析软件

使用能量色散x射线荧光(EDXRF)光谱仪和傅里叶变换红外(FTIR)分光光度计获得的数据来优化识别真实世界污染物的软件包。

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